出展社
Booth No. D-13
西華産業(株)
〒100-0005 東京都千代田区丸の内3-3-1 新東京ビル3F
西華産業(株)
Seika Corp.
〒100-0005 東京都千代田区丸の内3-3-1 新東京ビル3F
- TEL
- : (03)5221-7112
- FAX
- : (03)5221-7145
- : chouc@jp.seika.com
- Web
- : https://www.seika.com
- 担当
- : 電子機器部
取扱製品分野
- 測定器、製造装置、システム
- コンポーネント(アクティブ)
- コンポーネント(パッシブ)
- アンテナ
- 半導体素子、IC
- コネクタ、ケーブル
- 基板、各種材料、PKG
- シミュレータ、そのほかソフト全般
- 設計・測定請負サービス
- 金属・材料加工
- その他
アプリケーション分野
- 5G, 4G移動通信、
次世代ワイヤレスシステム - 衛星・航空通信
- 放送、公共・防災無線
- 高度道路交通システム(ITS)
- レーダー
- IoT(産業、ヘルスケア、農業など)
- 計測システム
- ワイヤレス給電
- マイクロ波応用(マイクロ波加熱、バイオ、医療)
- その他
出展品目
- EVERBEING社製C-6RFマイクロ波対応アナリティカルプローバーステーション
- EVERBEING社製EB-050Eマイクロポジショナー (分解能0.8µm)
- EVERBEING社製EB-005Eマイクロポジショナー (分解能最大0.3µm)
- オンチップ / オンウェハ測定用マイクロ波プローブ部品
Exhibits
- EB C-6RF Analytical Probe Station for Microwave
- EB-050E Micropositioner with 0.8µm Resolution
- EB-005E Micropositioner with up to 0.3µm Resolution
- Microwave Probes for On-Chip / On-Wafer Test
展示製品の特徴
■C-6RF装置は、最大110GHzのマイクロ波プロービングに対応したアナリティカルプローバーステーションであり、振動除去構造、高性能顕微鏡と高分解能マイクロポジショナーを搭載することにより、コンパクトな設置面積でも高精度な測定が可能。更に、DC測定用途としても活用可能。任意メーカーのVNAとも互換性があり、ネットワークパラメータ解析に最適な構成を実現。
■EB-050Eは、0.8µmの分解能を有しており、精密なオーバートラベル制御により、プローブ接触時の安定性と測定再現性を向上。また、マグネットON / OFF機能が付属しており、簡単に調整可能。
■EB-005Eは、より高精度な0.3µmの分解能を持つ上位機種で、DC・RFに加え、故障解析 (FA) 用途にも適しており、RFプロービングやフォトニクス測定など、微細な制御が求められるアプリケーションに最適。マグネットON/OFF機能付属。
■チップやウェハ上のネットワークパラメータを高精度かつ安定して測定するには、専用のマイクロ波プローブが必要であり、GGB社製Picoprobeは、柔軟性のあるチップ設計により、扱いやすく、キャリブレーション後の挿入損失・反射損失を最小限に抑え、測定ニーズに応じて、周波数帯域、針のレイアウト、ピッチなどを選択可能。