出展企業セミナー

異なるマイクロ波測定技術の概要説明と比較、校正の技術、オンウェハ測定の境界条件の変異およびマイクロ波とミリ波素子の正確な解析と モデリングに対する影響を説明いたします。

大電流を制御するパワー半導体は、今後ますます需要が高まり、そして高性能化されて行きます。 インクスでは、独創技術で開発されたKIYOTA積層型プローブで、その高性能化するパワー半導体の検査を強力にバックアップして行きます。
通常のプローブでは、狭ピッチ化した大電流パワー半導体への対応が困難です。 しかし、KIYOTA積層型プローブであれば、最大2000Aまで対応でき、ピッチも1.0まで可能となります。
また、KIYOTA積層プローブは、その特性を活かしてケルビン測定にも対応でき、弱電環境であれば、100万回の寿命を誇ります。 接触抵抗も、構造がシンプルなのでバラツキが少なく、安定した測定を可能にします。

Siウエハ上のスパイラルインダクタの高周波特性を評価した結果がSonnetの電磁界解析結果と一致しなかった事例を元にその原因を解説する。 特に測定に置ける校正理論とSonnetのDe-embeddingの類似性、そしてそれらが機能するためにTEM伝搬モードが確保されていることの重要性を示す。
さらに新バージョンで実装される新しいDe-embeddingについて紹介する。

特定の周波数帯域のノイズを抑制する方法として、電磁バンドギャップ構造を活用する方法が研究されています。
本セミナーでは、株式会社東芝の佐々木様より、NI AWR設計環境の電磁界解析シミュレータ(AXIEM/Analyst)を 活用してEBG構造を設計した事例を、実測とシミュレーションの比較結果も含 めてご講演いただきます。
また、本件の解析において、電磁界解析の活用(効率化・高精度化など)に有効であったポイントを、AWR Japanよりご紹介いたします。

WIN Semiconductors Corp is engaged doing the new process development continuously.
Now we are aiming to offer the highly integrated MMW pHEMT process technologies for customers' high frequency application, such as including the E mode pHEMT of 0.15um or 0.1um pHEMT process.
Moreover, in order to enhance customer’s design cycle and convenience, WIN is planning to offer the post wafer service-advanced RF testing probing and final testing.

本発表では3次元フルウェーブ電磁界解析の出力を用いたレイトレース法との連成解析事例及び 電子レンジを対象としたマイクロ波加熱の事例等をご紹介致します。

医療、研究などに使用される加速器は非常にQの高い共振器であり、 このためマイクロ波注入時直後には完全反射の状態となります。 当社ではこの条件にも耐えられるメガワット級の導波管コンポーネントを 開発・量産を行っています。

・InnoSenT 新製品紹介
・評価キット標準機能 (定在波レーダ/FMCW, CWドップラー)について
・0mからの測距、静止物検知、微小変位 (数10umオーダー)計測
・各種オプション機能 (2周波ドップラー/FSK、低速・高感度チューン)
・バイタルサインモニタ (見守り、安心・安全)ソリューション ・Arduino、Galileo、 Raspberry Pi に対応する24GHzセンサ基板

電気自動車、自動運転技術、高度交通システム等、近年の自動車産業では通信技術や各種センサーの設計開発、 効率的なノイズ対策等のエレクトロニクス技術がますます重要になっています。
CST STUDIO SUITEは、豊富なモジュール、ソルバーによって、あらゆるカーエレクトロニクス設計開発を包括的にサポートします。
本セミナーでは、車載アンテナ、車車間通信などのアンテナ解析、放射ノイズ、伝導ノイズ等のEMC解析の事例を通して CST STUDIO SUITEによる効率的なシミュレーションワークフローをご紹介いたします。

最新アクティブロードプル装置では、従来スピードの約5倍の速さで高精度測定を実現。
昨今、高出力アンプにとって高効率化は必要不可欠である。
本セミナーでは、最新且つ最速のアクティブロードプル装置の紹介及び高出力アンプ高効率化実現について述べる。