出展企業セミナー

Microsanj社のNanothermシステムは、これまでのIRによるサーモグラフィー装置とは全く異なり、可視光の熱反射特性を利用した熱画像解析装置です。IR装置が赤外線を測定するのに対し、Nanothermシステムは可視光の反射をCCDカメラにより計測する方式のため、IR装置では困難なサブミクロンオーダーの分解能で、鮮明な熱画像を見ることができます。また、可視光を利用するため、金属を含む測定物を、表面に特別な処理を行う事無く非接触にて、-265〜500ºCの温度範囲で測定を行うことができます。

プリント基板におけるEMC問題は、静電気などのインパルス性ノイズやDCDCなどのスイッチング性ノイズ、放射ノイズなどがある。また、信号伝搬においては4G、8GBPSといった高速伝送の信号品質も要求される。
これらの電磁界現象を適切に解析するためには、最適な解析手法を選択する必要がある。
本セッションでは、大規模、実装、高周波、非線形、放射のキーワードをもとに、EMC問題における電磁界解析例をS-NAP PCB Suiteを用いて紹介する。

近年、増幅器設計はより高精度で効率的に行うことができるよう多くの機能が開発されています。
本講演では最新バージョンで用意された新しいロードプル解析を中心として、バイアス条件の決定から最終的なレイアウトの電磁界解析、パッケージによる効果、回路構成が影響する電流分布など、増幅器設計を効率的に実行するポイントを解説します。
また、5Gで検討されているGFDMの信号源を増幅器に入力し、OFDMの信号源とのスペクトラム特性を比較し、増幅器設計でしばしば行われる変調信号を活用した増幅器の特性評価についても紹介します。

電気試験治具は、各デバイスメーカー様で測定されるDC的な内容(ｵープン、ショート、電圧、電流)と高周波的な内容(ロス、ゲイン、周波数特性)を効率良く(タクトタイムの考慮)実現する必要があります。
製作事例を元に、試験治具での工夫内容の一例を紹介します。

従来と比較して圧倒的に高い周波数帯を用いた広帯域LCに対応する開発には、新たな環境構築が必要とされる。高い精度と再現性が要求される測定においても既存システムの継続使用では対応が難しくなっている。
新たな測定システムにおいて、ますます役割が重要視されるケーブルの現況を解説し、ソリューションを提案する。

マイクロ波励起高密度プラズマ技術として、表面波プラズマおよびECR(Electron Cyclotron Resonance)プラズマなどを利用する半導体製造装置が広く用いられている。マイクロ波放電を用いると大面積・高密度プラズマを容易に生成できるが、マイクロ波モード(TE、TMおよびTEM)による高周波電場のプラズマへの異なる影響があり、またプラズマ臨界密度にてマイクロ波を反射するカットオフ現象が起こり、シミュレーションは非常に複雑である。
本報は、COMSOL Multiphysicsのマイクロ波プラズマのモデリング手法を紹介し、マイクロ波励起高密度プラズマの応用例を示す。

ハーモニック共振器摂動法による複素誘電率・透磁率測定システムは、従来電子材料評価を伝送法で行ってきた複素誘電率・透磁率同時測定を、共振器法で実現したシステムです。その結果、複素誘電率・透磁率測定の測定精度が、格段と向上し、更に一個の共振器で、複素誘電率・透磁率の周波数特性が得られるようになった。
今回のセミナーでは、原理、材料の評価結果等を説明します。

移動体通信基地局、移動体端末、WLL、WiMAX、LTE、CATV、放送局、レーダーや工業用、高周波加熱装置等のアプリケーション向けに世界市場をリードする最先端の半導体及び高周波・マイクロ波部品を紹介いたします。