展示製品の特徴

■高周波特性の評価でお悩みの方へ。「高周波特性測定機 マイクロプローバーMPシリーズ」は高速伝送基板の高周波特性を自動で全数測定可能です。圧倒的な繰返し性と再現性を誇る革新的な装置構造は、基板の反りや歪みに対してもプローブの接触条件を一定に保つことができるため、圧倒的な測定繰返し性と再現性を実現できます。個片間の微妙な特性の違いを明確に判別できます。また、マルチポートVNAと組み合わせることで量産適用が可能となります。複数個辺かつ複数トレースの一括測定を実現します。さらに、品質の見える化と100％製品保証を可能にします。ベア基板の実回路を全数測定できるため、前工程品質へのフィードバックや後工程への品質保証等様々なメリットがあります。市販のVNAやその他測定器を組み込むことで、用途に応じた多彩な測定に対応。「基板本来の性能が分からない。」「特性評価に時間と手間がかかる。」といったお悩みをお持ちの方、あらゆる真値を収集して付加価値にする信頼性の高い全自動測定システムをぜひご体験ください。ただいま無償サンプルテストサービスを実施しておりますので、お気軽にお声がけください。