Microwave Workshop & Exhibition:Nov.28-30,2012 in Pacifico Yokohama,JAPAN

出展企業セミナー

プログラム一覧

 
    会場:パシフィコ横浜展示 Dホール ★聴講料無料・事前登録不要


11月28日 (水)
12:30-13:15 13:30-14:15 14:30-15:15 15:30-16:15 16:30-17:15
出展企業
セミナー
A会場
 
 
 
 
マイクロ波パワー測定の最新情報総まとめ WIN's Technologies Introduction for High Frequency Application トライクイント社 GaN製品(窒化ガリウム製品)  
 
 
ローデ・シュワルツ・ジャパン(株) WIN Semiconductors Corp. リチャードソン・アールエフピーディー・ジャパン(株)  
出展企業
セミナー
B会場
12:30-13:15 13:30-14:15 14:30-15:15 15:30-16:15 16:30-17:15
WIPL-D Pro3次元電磁界シミュレータ スパイラルインダクタの等価回路モデル抽出 広範な応用分野に対応するCST STUDIO SUITE−電磁界からマルチフィジックスまで− ANSYSが実現するワイヤレス給電ソリューション  
WIPL-D(Japan), Inc. (有)ソネット技研 (株)エーイーティー アンシス・ジャパン(株)  
 


11月29日 (木)
12:30-13:15 13:30-14:15 14:30-15:15 15:30-16:15 16:20-17:00
出展企業
セミナー
A会場
 
 
 
 
マイクロ波・ミリ波を使用したレーダー(各種アプローチと用途の攻略) 衝突防止レーダー開発のための、イメージングタイプRCS測定、ムービングターゲット装置、プリクラッシュ評価装置 マイクロ波帯表面実装(SMD)型の小型可変アッテネータ及び可変インダクタの最新技術紹介
2012 IEEE MTT-S Japan Young Engineer Award 授与式
 
 
ピーティーエム(株) キーコム(株) エム・アール・エフ(株)  
出展企業
セミナー
B会場
12:30-13:15 13:30-14:15 14:30-15:15 15:30-16:15 16:30-17:15
 
 
 
 
オープン・ループ・アクティブ・ロードプルシステムを使用したサクセスストーリー マイクロ波・ミリ波帯複素誘電率システムの不確かさの考察(3)−不確かさ要因 : 材料加工精度、電気的測定、材料製作上(結晶構造)等− 革新的な110GHzまでのアクティブデバイス特性化(NF測定とSパラメータ)  
 
 
(株)ネットウエル (株)関東電子応用開発 アンリツ(株)  


11月30日 (金)
12:30-13:15 13:30-14:15 14:30-15:15 15:30-16:15  
出展企業
セミナー
A会場
 
 
 
 
導体表面のマイクロ波評価技術   [特別企画セミナー]
新型太陽電池の開発における大学ベンチャーの技術戦略
大学展示コンテスト
表彰式
 
 
 
サムテック(有)
出展企業
セミナー
B会場
12:30-13:15 13:30-14:15 14:30-15:15 15:30-16:15  
S-NAP PCB Suiteを用いた実装基板のシミュレーションについて 適切な電磁波解析のススメ 熱解析ソフトウェアSYMMICと総合解析環境Microwave Officeを用いた熱と電気の協調解析 マイクロ波加熱を受ける系の有限要素解析−Finite Element Analysis of a System Heated by Microwave−  
(株)エム・イー・エル ファラッド(株) AWR Japan(株) 計測エンジニアリングシステム(株)  
 

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