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| 一般企業セミナー 01 |
11月09日(水) 13:00～13:50 |
A 会場 |
| 混在する通信技術における モバイルネットワークシステムの最適化と共有 |
| エム・エー・ジェー(株) |
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| インドア/インビルディング通信システムにおいて複数存在する、周波数・規格・技術の連結・統合・分配の方式と、POI(Point Of Interconnection)や CDU(Combining and DistributionUnit)などにおける共有と、(1)十分なキャパシティ (2)広範囲な通信エリア (3)通信品質の向上 を得る為の 設計開発時の留意点と指針。 |
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| 一般企業セミナー 03 |
11月09日(水) 14:00～14:50 |
A 会場 |
| LPDA型光電界センサによる マイクロ波帯用広帯域・高感度測定システム |
| 神奈川県産業技術総合研究所 |
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光電界センサは、電磁波を正確に測定するため、擾乱を与える同軸線を光ファイバーに置き換えた構造の測定アンテナです。そして、アンテナ形状を対数周期ダイポール・アンテナ・アレイ(LPDA)構造とすることで、マイクロ波帯での広帯域と高感度を両立することが可能となりました。
今回のセミナーでは、LPDA型光電界センサの基本性能と、これを搭載した三次元空間輻射測定システムによる電界分布測定例を紹介します。 |
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| 一般企業セミナー 05 |
11月09日(水) 15:00～15:50 |
A 会場 |
| MIMO通信システムの モデリングとシミュレーション |
| エム・アールエフ(株) |
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限られている周波数帯域幅に、より多くのデータを転送するために、Multiple-Input Multiple-Output(MIMO)技術が注目を集めている。次世代無線LAN(802.11n)や 無線ブロードバンド(802.16e)は、この技術を採用する。
本プレゼンではMIMO入門、MIMOチャネル・モデル、MIMO-OFDM、MIMOシステムのモデリングとシミュレーション手法を紹介する。 |
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| 一般企業セミナー 07 |
11月09日(水) 16:00～16:50 |
A 会場 |
| 高誘電率材料「フレクティス®」の特性と応用展開 |
| ポリプラスチックス(株) / 大塚化学(株) |
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| 高耐熱、熱可塑性樹脂「ポリフェニレンサルファイド(PPS)」および「液晶ポリマー(LCP)」をベースとした、高誘電率特殊セラミックスとの複合材料『フレクティス®』の、特長と応用展開について紹介する。 |
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| 一般企業セミナー 02 |
11月09日(水) 13:00～13:50 |
B 会場 |
| LTCC "No"、IPD "Yes" −LTCCの代案ソリューションとしてのGaAs IPD− |
| Knowledge*on Inc. |
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(1) Knowledge*onの 6inch GaAs IPD Foundry Service の紹介
(2) 6inch GaAs IPDでの Inductor Q
(3) GaAs IPDを利用した filter設計の応用例
(4) LTCCに比べてみた GaAs IPDのメリット、見込み |
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| 一般企業セミナー 04 |
11月09日(水) 14:00～14:50 |
B 会場 |
| マイクロ波機器への 誘電体セラミックスの応用展開 |
| 日本タングステン(株) |
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(1) 当社誘電体セラミックス全般の紹介
(2) 当社の開発コンセプト
(3) アンテナや共振器などの個別商品の紹介 を行います。 |
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| 一般企業セミナー 06 |
11月09日(水) 15:00～15:50 |
B 会場 |
Multi-Purpose Tuners and an Illustration of Their Role in Modeling Devices the Test Systems that Support Synthetic Test Solutions
by Christos Tsironis, Focus Microwaves and David Menzer, Auriga Measurement Systems |
| (株)アムテックス |
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Device Modeling flow overview with Illustration of the Need for Pulsed IV with Advanced Model Verification using real world issues. |
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We will present A new type of electromechanical tuner, the Multi-Purpose Tuner (MPT) uses three cascaded and independent wideband probes and allows all needs for tuners to be satisfied by a single unit and show it’s use as part of an overview of the large signal and noise modeling flow to extract state of the art models. This process flow takes advantage of the latest advances in on wafer measurements, including use of tuner systems with complex modulation, as well as illustrating the necessity of Pulsed IV techniques to extract highly accurate large signal models. This talk will graphically illustrate why Pulsed IV techniques are critical for modeling today’s advanced compound semiconductors to extract accurate models.
This talk will also show how Pulsed techniques can allow alternative approaches to characterizing the memory effects and bias dependent effects in devices. Also, we will show how high power devices, ideal for modern cellular base station applications, can benefit from Pulsed IV measurements. |
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Finally, most of us are familiar with the traditional applications of on and off wafer tuner systems to derive device models. This talk will also cover newer applications for tuner systems that allow manufacturers to specifiy product closer to its ultimate failure point, or how designs can be optimized to deal with real world mis-match.
We will discuss the trade-offs of mechanical vs. electronic tuners, as well as the ultimate capability of any passive tuner system. The use of the Multi-Purpose Tuner provides the device characterization engineer with a Harmonic Tuner (fo, 2fo, 3fo), operational over a wide frequency range without hardware interventions (resonator or triplexer changes), or a High VSWR (Prematching) tuner. This MPT tuner is ultrawideband and ideal for on wafer use due to its unique mechanical design. The advanced software and calibration techniques allow the tuner to be fully calibrated on a network analyzer in less than 25 minutes per set of harmonic frequencies. Measurement applications for fundamental and harmonic tuning will be presented. |
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| 一般企業セミナー 08 |
11月09日(水) 16:00～16:50 |
B 会場 |
State-of-The-Art Antenna and EMC Measurement Technology for Next Generation Wireless Systems
最新アンテナおよびEMC測定技術の 次世代無線通信評価への応用 |
| TDK(株) |
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無線通信技術は、携帯電話や無線LANをはじめとして社会の広い分野で利用されており、さらに新たな無線技術の提案と開発が進められています。次世代の無線通信では、利用する電波の制御や他の無線システムへの干渉抑制が重要な課題であり、アンテナとEMC測定の重要性がますます高まっています。
次世代超高速無線通信の代表例として Ultra Wideband(UWB)を取りあげ、実際の測定例なども交えながら、アンテナおよびEMC測定技術のポイントを解説します。 |
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