Booth No. E602
(株)ヨコオ
Yokowo Co., Ltd.
出展品目
- [参考出品]
新方式マイクロ波モジュール検査用治具ヘッド
- プローブコネクタ
(半田付けフリー同軸コネクタ着脱治具)
- 可変ピッチ差動プローブ
(バランを介さない差動プローブ)
- ダブルプロービングテーブル
(基板表裏にプロービング可能なXYZテーブル)
- 同軸ケーブル
- 同軸プローブ
- RFコンポーネント
- RFテストテーブル
Exhibits
- [Reference Exhibit] New structure of Microwave Module Inspection Tools
- Probe Connector (Soldering-Free Connector)
- Variable Pitch Differential Probe (Without Balun)
- Double Probing Table (XYZ Table which can Probe on the Board Front and Back)
- Coaxial Cable (Soft Tension & Phase Stability)
- Coaxial Probe for the Inspection
- Microwave Component
展示製品の特徴
【マイクロ波モジュール検査用治具ヘッド】
・新方式を採用したモジュール検査向け治具ヘッド。
・標準化により、低価格・短納期を実現。
・任意レイアウトに対応。
【プローブコネクタ】
・Vコネクタ及びSMAコネクタ出力のマイクロストリップライン基板向け簡易測定治具。
・コネクタの基板端部への半田付けが不要なため、半田付けの技量や良し悪しに左右されず一定な測定が可能。
・基板受入れや信頼性試験時間が飛躍的に短縮。
【可変ピッチ差動プローブ】
・バランを介さない差動プローブの為、バランの特性に一切影響を受けない可変ピッチ式の差動プローブ。
ピッチは0.2〜2.0mm。
【ダブルプロービングテーブル】
・対象となる基板の片面または、両面へ高精度で接触可能なXYZ機構を持ったプロービングテーブル。
【同軸ケーブル】
・生産ラインでの偶然の接触や検査の為の可動に対し、特性変化が極めて微小。
・大変軟らかく、引き回しや可動部への張力負荷が大幅に低減。
【同軸プローブ】
・基板の開発時、量産時の様々な検査にお答えするべく、使用目的別に多くのバリエーションをご用意しました。