Booth No. C202
日本ナショナルインスツルメンツ(株) / (株)ペリテック
National Instruments Japan Corp. / Peritec Corp.
出展品目
- 位相計測・電磁界同時計測機能搭載近傍EMIスキャナシステム
- NI PXIe-5665 ベクトル信号アナライザ
Exhibits
- Near-Field EMI Scanner System with Phase Measurement and Simultaneous Electric / Magnetic Field Measurement Capability
- NI PXIe-5665 Vector Signal Analyzer
展示製品の特徴
【位相計測・電磁界同時APD計測機能搭載近傍EMIスキャナシステム】
(株)ペリテック社と太陽誘電(株)との共同開発によるもので、近傍EMIノイズ分布を計測する従来のEMIスキャナに対し、ノイズの遠方への放射を推定する際に用いられる位相の分布を計測することが可能です。
またデジタル無線通信機の通信性能を評価するのに有効なAPD(Amplitude Probability Distribution)の計測を特殊な電磁界同時計測プローブを組合せて計測することで、対象となる電子機器のノイズ源となる電流源マップを視覚化し、最近多く問われるスマートフォン等の内部電磁界干渉(自家中毒)の対策に効果が大きな得られます。
【NI PXIe-5665】
National Instruments社の最新のPXIベクトル信号アナライザモジュールで、20Hzから最大14GHzまでの周波数を最大50MHz帯域幅でリアルタイム解析することができます。
・129dBc/Hz 位相ノイズ (オフセット10kHz、中心周波数800MHz)
・165dBm/Hz のノイズフロア (1GHz時、代表値)
・±0.1dBの振幅精度 (代表値)
また、このモジュールは位相コヒーレント多数チャンネルの計測に対応しており、MIMO技術を用いた通信の計測に迅速に対応します。