Booth No. B404・C305
カスケード・マイクロテック(株)
Cascade Microtech Japan, Inc.
出展品目
- RF / マイクロ波デバイス測定評価用
オン・ウェーハ・プローブ
- RF / マイクロ波デバイス測定評価用
プローブ･ステーション
- RF-MEMS測定用システム
- 光学系（VCSEL / LED）測定用システム
Exhibits
- RF / Microwave On-Wafer Probes
- RF / Microwave On-Wafer Probe Stations
- RF-MEMS Measurement System
- Opto-Electronics (VCSEL / LED) Measurement System
展示製品の特徴
本年は、C-305（アジレントアベニュー）とB-404の2ヶ所で展示を行います。
■C-305（アジレントアベニュー）
【Tesla ハイパワー測定用プローブ・ステーション】
GaNに代表されるハイパワー・デバイスのRF/DC評価に最適
【EP-6 小型 / 低価格マニュアル・ステーション】
ウェーハから基板／パッケージの測定に対応
【Sパラメータ / TDR測定用プローブ】
RFからミリ波までのデバイス評価に対応
【ファンクションテスト用プローブ】
Unityプローブ、Multi|Z|Probe等のプローブ
【高周波／高速信号対応プローブカード】
【高速信号対応テスト・ソケット】
■B-404（カスケード・マイクロテック）
【VCSEL / LED / PD等の光計測用プロービング・ソリューション】
光部品のオンウェーハやチップレベルでの測定ソリューション
【RF-MEMS用プロービング・ソリューション】
ドップラー振動計と組み合わせた1.2GHzまでのウェーハレベル振動解析ソリューション
