MWE 2008 マイクロウェーブ展 2008 事務局 (株)リアルコミュニケーションズ 〒270-0034 松戸市新松戸1-409 新松戸Sビル3F TEL : 047-309-3616 FAX : 047-309-3617 E-mail : mweapmc@io.ocn.ne.jp

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出展企業

(株)精工技研
 Seikoh Giken Co., Ltd.

〒270-2214 千葉県松戸市松飛台415-2
TEL
:  047-388-6197
FAX
:  047-388-6403
Mail
:  ryuji.osawa@seikoh-giken.co.jp
Web
:  http://www.seikoh-giken.co.jp
担当
:  光ユニットグループ センサ開発チーム
出展品目
  • 光プローブ [OEFS-Probe] (新製品)
  • 光電界センサ [OEFS-S1B]
  • 光ファイバ端面検査装置 [CI-1000]
  • 端面クリーナ [フェルールメイト]
 Exhibits
  • Optical Probe [OEFS-Probe] (NEW)
  • Optical Electric Field Sensor [OEFS-S1B]
  • Connector Video Inspector [CI-1000]
  • Endface Cleaner [Ferrule Mate]
展示製品の特徴
    ■光プローブは、先端のSMAコネクタによって小型アンテナや市販アンテナに接続し、同軸ケーブルなどの金属体を使用せず、光ファイバによってRF信号を伝送します。さらに、センサヘッド部は無給電で動作するため、電波暗室での受信測定において乱反射によるノイズを極めて低くすることができます。新製品として周波数帯域と感度の異なる3タイプ (2S：〜2GHz、5S：〜4.5GHz、6S：〜6.5GHz)を展示します。

    ■光プローブと同様に、殆ど金属を使用しないで、微小ダイポールアンテナによって300MHz〜10GHzまで3軸各方向のRF測定が可能な小型3軸光電界センサを展示します。

    ■光ファイバ端面のクリーニング作業が確実に行なえる端面クリーナとその端面を観察できる検査装置を展示します。



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