J Micro Technology
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担当 : 部品機器営業部 第1グループ 中根 邦博
出展品目
- パーソナル・プローブ・ステーション
- マイクロプローブテスト用 アダプタ基板
プローブポイント
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Exhibits
- Personal Probe Station
- Probe Poin
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展示製品の特徴
●半導体デバイス・パッケージ・伝送回路等の高周波帯域における特性を測定するためのプローブステーションです。
・コンパクトな卓上サイズ
・本体、顕微鏡、ポジショナー、プローブをセットにした 低価格製品
・被測定デバイスの様々なインターフェースに対応可能な「アダプタ基板」供給可
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