J Micro Technology
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担当 :部品営業部 コンポーネンツグループ 中根 邦博
出展品目
- パーソナル・プローブ・ステーション
- マイクロプローブテスト用アダプタ基板
- プローブポイント
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Exhibits
- Personal Probe Station
- Probe Point
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展示製品の特徴
半導体デバイス・パッケージ・伝送回路等の高周波帯域における特性を測定するためのプローブステーションです。
●コンパクトな卓上サイズ
●本体・顕微鏡・ポジショナー・プローブをセットにした低価格製品
●被測定デバイスの様々なインターフェースに対応可能なアダプタ基板供給可
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