J Micro Technology

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 担当 :部品営業部 コンポーネンツグループ 中根 邦博


出展品目
  • パーソナル・プローブ・ステーション
  • マイクロプローブテスト用アダプタ基板
    - プローブポイント
Exhibits
  • Personal Probe Station
  • Probe Point
展示製品の特徴
半導体デバイス・パッケージ・伝送回路等の高周波帯域における特性を測定するためのプローブステーションです。

●コンパクトな卓上サイズ

●本体・顕微鏡・ポジショナー・プローブをセットにした低価格製品

●被測定デバイスの様々なインターフェースに対応可能なアダプタ基板供給可