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出展品目
- 複合半導体素子のRF加速・ライフテスト / バーンイン試験装置
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Exhibits
- RF Accelerated Life-Test / Burn-In Test Systems for the Compound Semiconductor Devices
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展示製品の特徴
■ACCEL-RF社は、2003年に設立された広帯域ワイヤレスネットワーク装置等に使用される複合半導体素子のエージング装置を供給する世界でも数少ない専門メーカです。
ソフト及びハードの基本設計・製造・アフターサービスを一貫して提供しております。
■GaAs、SiGe、GaN、SiC、InP、MMIC等の複合半導体素子(DUT)を、RF、DC、温度(熱特製)の3つのパラメーターを独立に制御しながら加速試験可能なため、99.999%の信頼性試験結果を得ることができます。
■今までこの装置は、各半導体メーカが自社にて製造しておりましたが、最近の多様な半導体素子に対する顧客のニーズに合わせた信頼性試験は、効果になり、メンテナンスも
大変になりました。
■従いましてこの装置を導入することにより、MTTFyaFITの値が容易に推定され、数多くの半導体ユーザーに納入され好評を博しております。
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