周波数帯の増加化、多機能化、高密度化、そして低消費電力化といった、次世代のRFおよびマイクロ波デバイスのトレンドは、既存の測定技術に、極めて高いレベルの課題を突きつけています。すなわち、シングルエンド、マルチポートや差動、あるいは微小信号や光感度のあるコンポーネントの、正確かつ高速での、ウエハレベルRFテストの必要性が増すにつれ、システムやアクセサリには極めて高いパフォーマンスが要求されます。
こうした21世紀の問題に対するソリューションとして、ズース･マイクロテック社は、一貫したウエハレベルRFおよびマイクロ波の、測定および特性評価システムをご提供します。プローブシールド(ProbeShieldｨ)テクノロジーは、電磁気やRFによる障害の優れた減衰を実現し、これは測定が環境騒音による悪影響を受けないことを保証します。また、ケーブル長やプリアンプのシールドといった、測定における極めて重要なファクターの設定の最適化を可能にしました。システム構成は、無限のフレキシビリティ性を搭載することにより、多様性に富んでおり、極めて微小な漏れ信号、最適化されたHFおよびRF-CV、パルスIV、フリッカーやRFノイズ、RFやマイクロ波デバイスのシングルエンドあるいは、差動特性を提供いたします。
ズースは、特許取得済みの高周波針『|Z|プローブ』テクノロジーによって、テスト（DUT）時の、針とデバイスとのコンタクト方法の改善に成功しました。つまり、DC針と同程度の簡単な使い方で、比べものにならないほどの再現性と長寿命を実現したのです。さらに、ズース社は、RFおよびマイクロ波の測定システムの校正に関しても、NISTスタンダードを使用して検証された最も高精度な方法である、LRM+ｪ校正法を用い、正確かつ温度による高安定性に富んだCSR校正基板また、SussCalｨ校正ソフトウェアによって、新たな次元のソリューションを提供いたします。
ズースの、こうした包括的なソリューションは、エンジニアの皆様に、次世代のRFやマイクロ波コンポーネントの全く新しいレベルのモデリング、設計、製造をもたらします。
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